按键寿命试验介绍：
按键寿命测试是针对手机、电脑、鼠标、键盘、摇控器等之按键、通讯类等硅胶按键及片按键之使用寿命，对微动开关，橡胶开关等按键寿命均适用。按键寿命测试可以模拟键盘类真实使用情况，支持校力装置，真实反映按键耐打击能力。
按键寿命试验条件：
测试次数：需要进行按压的次数，一般由客户决定；
测试压力：施加到按键上面的负荷，如250g、500g；
测试速率：两次按压之间的间隔，一般多少次每分钟；

按键寿命试验适用范围
用于点击开关、按键、带锁和不带锁开关疲劳寿命测试，如手机、电脑、鼠标、键盘、摇控器、游戏手柄等。

按键寿命试验判定：
按照客户提供的实验条件测试完成后，
对样品进行外观检査如：各按键外观应无深度刮痕、无深度变形、无破裂、明显松动等现象;
对样品进行功能检查如：按键能正常动作，指示灯正常显示，各类功能均能正常控制等。

按键寿命测试范围
一般适用于手机、对讲机、机顶盒按键、遥控器按键、键盘、鼠标、计算器、笔记本、按键开关、游戏手柄、MP3、硅橡胶按键、硅胶制品等及其他各类带按键的产品。
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